溫度沖擊測(cè)試可針對(duì)電子產(chǎn)品的一種可靠性測(cè)試,一般電子產(chǎn)品做的多的是從高溫環(huán)境突然進(jìn)入低溫環(huán)境的測(cè)試。電子產(chǎn)品溫度沖擊試驗(yàn)的意義:對(duì)于電子產(chǎn)品來(lái)說(shuō)可以剔除產(chǎn)品的早期故障,實(shí)驗(yàn)本身是一個(gè)破壞性實(shí)驗(yàn)。產(chǎn)品冷熱沖擊是檢驗(yàn)它的性能,但是沖擊過(guò)程肯定會(huì)加速產(chǎn)品老化。溫度沖擊試驗(yàn)常被稱(chēng)作熱沖擊試驗(yàn)或者溫度循環(huán)、高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)。溫度沖擊是指裝備周?chē)髿鉁囟鹊募眲∽兓瑴囟茸兓蚀笥?0度/min,即為溫度沖擊。
上面3種試驗(yàn),1、2以空氣作為介質(zhì),第3種以液體(水或其它液體)作為介質(zhì)。1、2的轉(zhuǎn)換時(shí)間較長(zhǎng),3的轉(zhuǎn)換時(shí)間較短。