跌落測試標(biāo)準(zhǔn)參考的方法主要是來源包裝和運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn)中標(biāo)準(zhǔn)。電子產(chǎn)品做跌落測試是為了測試電子產(chǎn)品包裝后在模擬不同的棱、角、面與不同的高度跌落于地面時(shí)的情況，從而了解產(chǎn)品受損情況及評(píng)估產(chǎn)品包裝組件在跌落時(shí)所能承受的墮落高度及耐沖擊強(qiáng)度，從而根據(jù)產(chǎn)品實(shí)際情況及國家標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)進(jìn)行改進(jìn)、完善包裝設(shè)計(jì)。80%的電子產(chǎn)品損壞大都來源于跌落碰撞，研發(fā)人員往往耗費(fèi)大量的時(shí)間和成本，針對產(chǎn)品做相關(guān)的質(zhì)量測試，最常見的就是跌落測試。

跌落測試方法：
跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面(如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定)。

對于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產(chǎn)品(如手機(jī)，MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm~150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產(chǎn)品(如手機(jī))則建議落下高度為150cm。測試的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。針對跌落實(shí)驗(yàn)國家有專門的標(biāo)準(zhǔn)，跌落方式都是一角、三邊、六面之自由落體，跌落的高度是根據(jù)產(chǎn)品重量而定。分2250px、1900px、1625px幾個(gè)等級(jí)。

一、跌落測試方法：
1、自由跌落
目的：確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性，或確定安全要求用的*低牢固等級(jí)。本測試主要用于非包裝的測試樣品，以及在運(yùn)輸箱中其包裝可以作為樣品一部分的測試樣品。

2、重復(fù)自由跌落
目的：確定可能頻繁跌落到硬表面的接有電纜的元件型裝置，例如連接器和小型遙控裝置，經(jīng)受重復(fù)跌落的適應(yīng)性。

二、跌落測試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4857.1-2019  包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第1部分： 試驗(yàn)時(shí)各部位的標(biāo)示方法
GB/T 4857.2-2005  包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第2部分:溫濕度調(diào)節(jié)處理
GB/T 4857.5-1992  包裝 運(yùn)輸包裝件 跌落試驗(yàn)方法
GB/T 4857.17-2017  包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第17部分：編制性能試驗(yàn)大綱的通用規(guī)則

以上為涉及跌落測試的國家現(xiàn)行的跌落標(biāo)準(zhǔn)，也是實(shí)驗(yàn)室主要的參考跌落測試標(biāo)準(zhǔn)，NTEK北測有大型可靠性實(shí)驗(yàn)室，專業(yè)提供跌落測試服務(wù)。