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車規芯片AEC-Q100與車規模組AEC-Q104的區別

2025-02-12
2672 作者: NTEK北測檢測集團官網
本文關鍵詞:
AEC-Q100與AEC-Q104的區別
車用電子主要依據國際汽車電子協會(Automotive Electronics Council,簡稱AEC)作為車規驗證標準,包括AEC-Q100(集成電路IC)、AEC-Q104(多芯片組件)。AEC-Q104與AEC-Q100主要的差別在哪里呢? 北測車規元器件實驗室梳理出以下6大區別:



一.AEC-Q104規范中,共分為A-H八大系列。其中,一大原則,在于MCM上使用的所有組件,包括電阻電容電感等被動組件、二極管離散組件、以及IC本身,在組合前若有通過AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200,MCM產品只需進行AEC-Q104H內僅7項的測試,包括4項可靠性測試:TCT(溫度循環)、Drop(落下)、Low Temperature Storage 、LTSL、Start Up & Temperature Steps(STEP);以及3項失效類檢驗:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、Destructive Physical(DPA);若MCM上的組件未先通過AEC-Q100、AEC-Q101與AEC-Q200,那必須從AEC-Q104的A-H八大測項共49項目中,依據產品應用,決定驗證項目,驗證項目會變得比較多。

二.要求試驗順序
AEC-Q100測項都可以一個一個分開進行,但在AEC-Q104上,為了依據MCM在汽車上實際使用環境,為復合式的環境,因此增加順序試驗,驗證通過的難度變高。例如,必須先執行完High Temp Operating Life(HTOL),才能做Thermal Shock(TS),一定按照順序試驗。

三.增加測試項目
AEC-Q104中針對MCM,增加H系列的測項;此外,針對零件本身的可靠性測試(Component Level Reliability),也增加了Thermal Shock(TS)及外觀檢視離子遷移(VISM)。

四.修改ESD靜電放電測試規格
考慮MCM內部組件組成的復雜性,AEC-Q104在ESD測試項目上,其中人體放電模式(Human Body Model,HBM)的最低要求規格,由AEC-Q100定義的2KV,下調至1KV;組件充電模式(Charged-Device Model,CDM),在AEC-Q100中,Corner Pin是750V,其他為500V,而在AEC-Q104上,則無論Pin Out位置,統一改為500V。

五.減少試驗樣品數量
AEC-Q100的待測樣品數量為77顆*3 批次;而在AEC-Q104上,考慮MCM等復雜產品的成本較高,因此優化實驗樣品數量為30顆*3 批次。

六.首次定義車用BLR測項
板階可靠性(BLR),是國際間常用來驗證IC組件上板至PCB之焊點強度的測試方式,也是目前手持式裝置常規的測試項目。而隨著汽車電子系統的復雜度提升,更多的IC組件被運用在汽車內,BLR遂逐步成為車用重要測試項目之一,不僅Tier 1車廠BOSCH、Continental、TRW對此制定專屬驗證手法, AEC-Q104也定義須測試車用電子的板階可靠性實驗(Board Level Reliability),雖然AEC-Q104針對BLR的測試項目僅有TCT(溫度循環)、 Drop(落下)、Low Temperature Storage Life(LTSL)、Start Up & Temperature Steps(STEP)等,尚未能完全貼近Tier 1的客戶規范,但卻是車用板階可靠性通用標準發展的一大步。

北測測試能力及AEC-Q100技術要求

北測測試能力及AEC-104技術要求

關于北測
北測集團(以下簡稱"NTEK")成立于2009年,總部位于深圳,主要從事智能網聯汽車、電子通信、新能源的研發驗證、檢驗檢測、失效分析、仿真模擬和市場準入等質量研究技術服務。
北測擁有豐富的車規級電子認證經驗,已成功幫助100多家企業順利通過AEC-Q系列認證,通過AEC-Q100對每一個芯片個案進行嚴格的質量與可靠度確認。
北測集團以車企車規芯片國產化需求為牽引,依托國產半導體產業基礎,提供完善的檢測認證服務,通過AEC-Q100車用標準嚴格把控汽車芯片安全質量,助力國產車規級芯片大力發展,為打造智能汽車安全體系再添新動力。

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